Összetétel-elemzés

Optikai emissziós összetétel-elemzés és XRF elemzés

A fémek összetételét spektrometriai módszerrel mérjük labor- vagy helyszíni körülmények között, mely alkalmas arra, hogy az anyagösszetétel mellett a néhány ppm-es szennyező anyagokat is kimutassa. Az  XRF-el pedig gyorsan, roncsolásmenteses mérhetõ fém, műanyag, kerámia, de még talaj fémszennyezettsége is.

Gyakran szükség van arra, hogy ismerjük egy alkatrész pontos kémiai összetételét. Van olyan eset azonban, mikor laboratóriumi vizsgálatra nincs lehetõség, vagy nem lehet mintát venni az anyagból és vizsgálatra küldeni. Az ilyen rejtély felderítésére áll rendelkezésünkre az optikai emissziós spektrometria (OES), és a röntgenfluoreszcencia (XRF). Előbbi során a minta egy kis mennyiségét laboratóriumban hevítjük. Ahogy elpárolog, kibocsát egy, az anyagra jellemzõ spektrumot, amit mérve megmondható, milyen alapanyagokból áll a mintánk. Az OES vizsgálatot aprólékos minta-elõkészítés elõzi meg. Az XRF során röntgensugárzással gerjesztjük a mintát, mely egy anyagra jellemzõ sugárzással válaszol – ennek spektrumát megmérve képesek a készülékek megmondani, mibõl áll a minta. Ez a fajta mérés akár terepen is alkalmazható, gyors, és nem roncsolja a mintát.

Oxford Instruments X-MET7000 és 7500 kézi-spektrométer (XRF)

Összetétel és ötvözetelemzõ mûszer, amely képes segédgáz, vagy vákuum nélkül röntgensugár segítségével gyors és pontos elemösszetétel-elemzésre.

X-MET7000 eXpress és X-MET7500 próbálja ki magyar nyelvû vezérlõszoftverrel!