Volfrám és réz elektródák összetételének meghatározása pásztázó elektronmikroszkóppal (SEM)
A vizsgálat háttere:
Egy partnercégünk anyagösszetétel vizsgálatának lehetőségével kereste meg az Atestor Kft.-t. A cég kompaktáló berendezésekben az erek összehegesztésére volfrám és réz elektródákat használ, annak függvényében, hogy milyen terméket szeretnének hegeszteni. A cég minőségügyi osztályán felmerült a kérdés, hogy a felhasznált elektródák beszállítóját le tudják-e valahogy ellenőrizni, azaz vajon ténylegesen nagytisztaságú volfrám és réz elektródákat szállítanak-e be a számukra?
A felmerült kérdések tisztázására felmerült egy független, külsős labor lehetősége. Mivel az Atestor Kft. már korábban is kapcsolatban állt a céggel – több közös munkájuk során – így ezúttal is minket kerestek meg tesztigényükkel.
A megkeresés és annak protokollja, a korábbi tapasztalatokra is építve egyszerűen és gyorsan lezajlott. A partnercég igénye tehát a beszállított elektródák anyagösszetételének vizsgálatára vonatkozott, melyre mi a pásztázó elektronmikroszkóp vizsgálati módszerét ajánlottuk.
A vizsgálati módszerről röviden:
A pásztázó elektronmikroszkóp (angolul: Scanning Electron Microscope, SEM) olyan elektronoptikai eszköz, amely a vizsgált tárgy felszínének meghatározott területét irányított vékony elektronnyalábbal, pontos minta szerint végigpásztázza, az elektronsugár és a tárgy kölcsönhatásából származó jeleket erre alkalmas detektorokkal érzékeli, és ezeket megfelelően feldolgozva, az elektronsugár mozgásával szinkronizálva képileg - esetleg más formátumban, pl.: spektrum - kijelzi.
Mivel az elektronsugár és a tárgy kölcsönhatásaként számos, az anyag adott felületére jellemző típusú jel keletkezik, lehetővé válik a minta különböző tulajdonságainak képszerű megjelenítése, vagy a vizsgált anyag tulajdonságainak, a vizsgálati terület helyének – képileg is azonosítható – meghatározása. Ilyen módon a vizsgált anyag alaki (morfológiai) sajátosságain túlmenően, a készülék felszereltségétől függően számos más tulajdonság is vizsgálható lehet (például a kémiai összetétel).
Mindezek ellenére a pásztázó elektronmikroszkóp legáltalánosabban használt sajátossága az, hogy a vizsgált anyagok felszínének alaki tulajdonságairól nagy felbontású és nagyítású, ugyanakkor nagy mélységélességű képet tud alkotni.
Egy partnercégünk anyagösszetétel vizsgálatának lehetőségével kereste meg az Atestor Kft.-t. A cég kompaktáló berendezésekben az erek összehegesztésére volfrám és réz elektródákat használ, annak függvényében, hogy milyen terméket szeretnének hegeszteni. A cég minőségügyi osztályán felmerült a kérdés, hogy a felhasznált elektródák beszállítóját le tudják-e valahogy ellenőrizni, azaz vajon ténylegesen nagytisztaságú volfrám és réz elektródákat szállítanak-e be a számukra?
A felmerült kérdések tisztázására felmerült egy független, külsős labor lehetősége. Mivel az Atestor Kft. már korábban is kapcsolatban állt a céggel – több közös munkájuk során – így ezúttal is minket kerestek meg tesztigényükkel.
A megkeresés és annak protokollja, a korábbi tapasztalatokra is építve egyszerűen és gyorsan lezajlott. A partnercég igénye tehát a beszállított elektródák anyagösszetételének vizsgálatára vonatkozott, melyre mi a pásztázó elektronmikroszkóp vizsgálati módszerét ajánlottuk.
A vizsgálati módszerről röviden:
A pásztázó elektronmikroszkóp (angolul: Scanning Electron Microscope, SEM) olyan elektronoptikai eszköz, amely a vizsgált tárgy felszínének meghatározott területét irányított vékony elektronnyalábbal, pontos minta szerint végigpásztázza, az elektronsugár és a tárgy kölcsönhatásából származó jeleket erre alkalmas detektorokkal érzékeli, és ezeket megfelelően feldolgozva, az elektronsugár mozgásával szinkronizálva képileg - esetleg más formátumban, pl.: spektrum - kijelzi.
Mivel az elektronsugár és a tárgy kölcsönhatásaként számos, az anyag adott felületére jellemző típusú jel keletkezik, lehetővé válik a minta különböző tulajdonságainak képszerű megjelenítése, vagy a vizsgált anyag tulajdonságainak, a vizsgálati terület helyének – képileg is azonosítható – meghatározása. Ilyen módon a vizsgált anyag alaki (morfológiai) sajátosságain túlmenően, a készülék felszereltségétől függően számos más tulajdonság is vizsgálható lehet (például a kémiai összetétel).
Mindezek ellenére a pásztázó elektronmikroszkóp legáltalánosabban használt sajátossága az, hogy a vizsgált anyagok felszínének alaki tulajdonságairól nagy felbontású és nagyítású, ugyanakkor nagy mélységélességű képet tud alkotni.
Pásztázó transzmissziós elektronmikroszkóp
A vizsgálat sikeresen lefutott, mely során kiderült, hogy a beszállító valóban nagytisztaságú volfrám és réz elektródákkal látja el a partnercéget. Így tehát elmondható, hogy a vizsgálat eredménye a megrendelő megelégedésére szolgált.
Elektródák a vizsgálótérben
A képeken látszik, hogy 50x-es nagyításnál az anyagok felülete homogén, nem láthatók szennyeződések. A vizsgáltról jegyzőkönyv is született, amiben a mért alkotóelemek is feltüntetésre kerültek. Ezek az adatok lentebb láthatók.
Réz elektróda 50x-es nagyításnál | Volfrám elektróda 50x-es nagyításnál |
Alkotóelem | [%] | Alkotóelem | [%] |
Cu | 98,89 | W | 98,22 |
Cr | 0,89 | Re | 0,95 |
Ni | 0,09 | Ta | 0,37 |
Fe | 0,04 | Ti | 0,11 |
Co | 0,03 | Hf | 0,07 |
Sn | 0,03 | Ag | 0,07 |
Mn | 0,02 | Fe | 0,07 |
Nb | 0,01 | Cd | 0,06 |
Mn | 0,05 | ||
Co | 0,03 | ||
Pb | 0,01 |
KÉPZÉS
Reológia (MFI)
Itt találja a Reológia témakörében tartott eddigi képzéseink összefoglaló anyagait.
Főbb témaköreink:
Folyásindex-mérő berendezések (MFI)
MFI mérés elvégzésének a menete
Mérés kiértékelése
Termékminősítési reológia mérések